检测
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Lens 全检机
简介
整盘的lens进入设备后,由上料手取放到转盘上进行逐个产品的瑕疵检测,检测完成后由下料手按NG/OK取放回对应料盘
用途:
适用于手机/车载镜头成品的瑕疵检测, 主要检测多层镜片的脏污、划伤、白点、异物、压伤等外观问题
技术特点:
正面及底面有定制的高亮频闪光纤光源,检出率高
可兼容两个机种轮流生产,即上午生产A机种,下午生产B机种
可检barrel面,360度环视¥ 0.00立即购买
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偏心高度AOI
简介
此设备采用中转tray堆料的方式供料,将整tray的产品传送上料位 ,然后单颗产品逐个放置到转盘进行2D+3D测量,并完成NG/OK区分
用途:
检测带支架的模组(如多摄或潜望模组)的支架与底面高度的尺寸测量
重点参数:
重复测量精度 ±0.01mm, UPH=1200pcs/h¥ 0.00立即购买
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Wafer 瑕疵检测
简介
此设备采用tray或单颗产品输送设计,将指纹芯片从进料端传输到出料口,单颗产品逐个检测,实在瑕疵检出+白点定向清除功能
用途:
检测8寸/12寸Wafer上bonding区的毛丝、白点、脏污、划伤、崩边等瑕疵,当瑕疵为白点、毛丝、脏污时使用除尘药水定向清除¥ 0.00立即购买
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